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基本信息

GJB 5892-2006
红外辐射率测量方法
Measuring method of infrared emissivity
2006-12-15
2007-05-01
有效
陈光文;陈敏;姜杰;李红梅;李常成;朱春才;
中国兵器工业集团第二一一研究所;总装备部重庆军事代表局驻昆明地区军事代表室;
中国兵器工业集团公司
中国兵器工业标准化研究所
国防科学技术工业委员会
GJB 832A-2005>光学系统标准>试验与评定标准(XFL 2280)
红外辐射率;调制光源;黑体辐射源;标准样板;物体表面
【范围】 本标准规定了红外辐射率的调制光源反射式测量方法、仪器组成、标准样片制作要求及测量程序等 内容。 本标准适用于测量满足以下条件的红外辐射率: a) 辐射率范围:0.05~0.99; b) 材料形态:固态或液态; c) 辐射波长范围:0.76μm~20μm。
【与前一版的变化】

包含术语

红外辐射率辐射系数 emissive coefficient 辐射率 emissivity ε λ 物体在某一温度下的光谱(λ)辐射亮度与绝对黑体在相同条件(包括温度、辐射面积、测量辐射功率 的立体角和方向等)下相应光谱辐射亮度之比,是表示实际物体(辐射源)辐射本领的特征值,还与该实 际物体的构成和表面状态有关。
调制光源反射式测量法利用反射测量原理,通过对黑体光源进行调制以提高测量信噪比的一种红外辐射率测量方法。

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包含图表

被测物体表面的辐射率
调制光源反射式测量法
输出信号电压的数值与
样品在某-光谱波段的
黑体的辐射照度的数值
黑体的辐射照度的数值
黑体温度的变化引起辐

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