用户名: 密码: 登 录   个人中心   系统维护   用户注册  联系我们
当前位置 >首页 > 标准信息

全文阅读 全文下载 章节阅读

基本信息

GJB 1648-93
晶体振荡器总规范
Oscillators,crystal,general specification for
1993-09-30
1994-06-01
有效
邓鹤松;宋佩钰;张春铃;章怡;边-林;
机械电子工业部;电子标准化研究所;七○七厂科工委测通所;
机械电子工业部
机械电子工业部电子标准化所
国防科学技术工业委员会
晶体振荡器;加速度;规定;初始频率;详细规范
【范围】 1.1 主题内容 本规范规定了体波石英晶体振荡器(简称晶振或振荡器)的通用要求以及质量保证规定和 可靠性保证要求。 1.2 适用范围 符合本规范要求的振荡器适用于军事电子设备中作频率控制或计时使用。 1.3 分类 1.3.1 型号命名及标识 型号命名应采用下述形式并符合规定(见3.1和6)。 {93c325babb6f7776aa09840f08c121b4.jpg}1.3.1.1 型号 型号用二个字母代号紧跟数字序号表示,第一个字母“Z”表示振荡器,第二个字母表示振 荡器类别(见1.3.2)。 1.3.1.2 产品保证等级 产品保证等级用单个字母B(军级)、S(宇航级)标识,以指明振荡器级别。 1.3.1.3 温度范围 晶体振荡器温度范围应有下列诸级: A. -55~125℃(S级除外); B. -55~105℃; C. -20~70℃; D. -55~85℃; E. -40~85℃; J. 其它(见3.1)。 1.3.2 类别 振荡器类别由单个字母标识如下: A类 普通晶体振荡器(XO) B类 压控晶体振荡器(VCXO) C类 温补晶体振荡器(TCXO) D类 恒温控制晶体振荡器(OCXO) E类 温补压控晶体振荡器(TCVCXO) F类 温控压控晶体振荡器(OCVCXO) G类 微机补偿晶体振荡器(MCXO) J类 铷—晶体振荡器(RbXO) 1.3.3 产品的确定 振荡器型号和标识(见1.3.1)以及规定的标称频率(见1.3.4)和引用的详细规范号确定 所供给的产品。 1.3.4 规定的标称频率 规定的标称频率(Hz)用固定的8字段标识,该固定字段由7个数字和一个字母(H、k或 M)组成,同时,小数点和适当的倍率如下: a. 小于1Hz和小于1000Hz者,用字母“H”表示小数点和倍率; b. 大于或等于1000Hz但小于1MHz者,用字母“k”表示小数点和倍率; c. 大于或等于1MHz者,用字母“M”表示小数点和倍率。 字母(H、k或M)前后的所有数字的组合表示有效数字。 下面是采用8字段构成规定频率的例子: {68320b14760203a1dea36a05ba1f0589.jpg}
【与前一版的变化】

引用文件/被引文件

包装储运图示标志
普通螺纹 直径与螺距系列(直径1~600mm)
人造石英晶体
半导体分立器件总规范
军用设备环境试验方法 霉菌试验
军用设备环境试验方法 噪声试验
计数抽样检查程序及表
电子及电气元件试验方法 总则
电子及电气元件试验方法 盐雾试验
电子及电气元件试验方法 低气压试验
电子及电气元件试验方法 耐湿试验
电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
电子及电气元件试验方法 爆炸性大气试验
电子及电气元件试验方法 密封试验
电子及电气元件试验方法 高频振动试验
电子及电气元件试验方法 可焊性试验
电子及电气元件试验方法 X射线照相检验
电子及电气元件试验方法 耐焊接热试验
电子及电气元件试验方法 引出端强度试验
电子及电气元件试验方法 加速度试验
电子及电气元件试验方法 冲击(规定脉冲)试验
电子及电气元件试验方法 随机振动试验
电子及电气元件试验方法 耐熔剂试验
印制板通用规范
电子元器件可靠性保证大纲
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
热敏电阻器总规范
短期频率稳定度测试方法
军用通信设备通用规范
机载电子设备通用指南
军用电子元器件破坏性物理分析方法
电子设备非工作状态可靠性预计手册
电子设备可靠性预计手册
ZA511(ZPB-5)型晶体振荡器详细规范
ZC547(ZWB-1)型温补晶体振荡器 详细规范
ZC545(ZWC-6B-1/2)型 温补晶体振荡器详细规范
军用电子元器件筛选技术要求

相关标准

激光倍频器用磷酸氧钛钾(KTP)晶体
人造石英晶体用熔炼石英规范
旋磁振荡器总规范
声表面波器件用人造石英晶体基片
非线性光学晶体磷酸氧钛钾(KTP)倍频增透膜规范
激光晶体用超纯三氧化二铝粉体材料规范
石英晶体元件总规范
JA533型石英晶体谐振器详细规范
JA547型石英晶体谐振器详细规范
JA557型石英晶体谐振器详细规范

包含图表

型号命名及标识
8字段构成规定频率的
气密性密封
逻辑输出电压电平
基本试验方框图
分立元件结构器件的筛
分立元件结构器件的筛
定制混合微电路结构振
定制混合微电路结构振
鉴定检验
鉴定检验
鉴定检验
鉴定检验
A组检验
A组检验
A组检验
C组检验
C组检验
同步能量
曲型的振荡器加热特性
频率温度
δf 和δf
温度精度
各δ f值按下式
频率温度
频率温度稳定性
δ f1,δ f2,δ f3
过冲
典型的振荡器热瞬变特
频率-电压
maxδf 和minδf
典型的振荡器重现性特
正交相位检测法
e计算
平行于第-轴,第二轴
加速度敏感度
短期稳定度阿仑方差试
上升和下降时间的测量
TTL和CMOS试验负载
占空因数的测量电平
短输出波形
三次谐波
各次谐波的有关响应
计算输出阻抗
谐滤失真的测量
测定输出端口间隔离度
测定门控振荡器抑制度
输入阻抗值
起振时间测量的试验图
VCXO试验图
线性度
如果老化趋势不是单调
频率-环境允差
相位噪声
振动引起的相位噪声
振荡器短期稳定度时域
加速度敏感度
时钟精度
时钟精度
产品保证等级的鉴定扩
温度范围鉴定的扩展
详细规范鉴定的扩展

标准反馈


  • 问题类型:
    反    馈: