用户名:
密码:
登 录
个人中心
系统维护
用户注册
联系我们
当前位置 >
首页
> 标准信息
全文阅读
全文下载
章节阅读
基本信息
【标准号】
GJB 1206.2-94
【中文名称】
制冷光导锑化铟红外探测器组件详细规范
【英文名称】
Detail specification for cooling and photoconductive infrared detector module in indium antimonide
【发布时间】
1994-04-28
【实施时间】
1994-12-01
【有效性】
有效
【起草人】
曾庆泰
;
胡德明
;
李培芳
;
【起草单位】
电子部第十一研究所
;
航天总公司第二十五研究所
;
【提出单位】
电子工业部
【归口单位】
电子部标准化研究所
【批准单位】
国防科学技术工业委员会
【分类】
【备案号】
【自动关键词】
红外探测器组件
;
黑体响应率
;
前置放大器
;
启动时间
;
黑体探测率
【范围】
1.1 主题内容 本规范规定了H22DA1型R 22 制冷光导锑化铟红外探测器组件(不含前置放大器,以下简 称组件)详细要求。 1.2 适用范围 本规范适用于H22DA1型R 22 制冷光导锑化铟红外探测器组件的研制、生产和采购。其他 同类结构及特性要求的组件亦可参照使用。
【与前一版的变化】
包含术语
启动时间
:
在一定环境温度下,制冷器自夹破密封玻璃泡开始制冷时起至制冷温度下降到规定温度 (60℃下为-27±1℃,室温下为-30±1℃)时所需的时间。(见图4及图5) 室温和60℃下的启动时间分别用符号ts和ts′表示。
保冷时间
:
在一定环境温度下,当制冷器启动后制冷温度维持不高于规定温度值的持续时间。(见图 4及图5)室温和60℃下的保冷时间分别用符号th和th′表示。
引用文件/
被引文件
GB 2423.4-81
电工电子产品基本环境试验规程 试验D
GB 2423.6-81
电工电子产品基本环境试验规程 试验E
GB 2423.25-81
电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试
GB 2423.26-81
电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验
GB 11297.6-89
锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
GB 1129.7-89
锑化铟单晶电阻率及霍尔系数测试方法
GB/T13584-92
红外探测器参数测试方法
GJB 179-86
计数抽样检查程序及表
GJB 1206-91
红外探测器总规范
GJB 1788-93
红外探测器试验方法
相关标准
·
GJB 533.9-88
潜艇舱室空气45种组分检测方法锑化氢含量的测定 检定管法
·
GJB 706-89
便携式金属地雷探测器通用规范
·
GJB 581-88
红外制导“地-空”导弹用单晶氟化钙
·
GJB 226.1-92
履带车辆挂胶负重轮试验方法红外吸收试验
·
GJB 387-87
地雷探测器术语
·
GJB 59.63-96
装甲车辆试验规程车内通风制冷性能试验
·
GJB 452.1-88
伪装服光学伪装性能及其检验方法伪装服可见光近红外伪装性能指标
·
GJB 452.2-88
伪装服光学伪装性能及其检验方法伪装服及背景可见光近红外亮度系数测量方法
·
GJB 1470-92
军用直升机动力装置红外抑制系统通用规范
·
GJB 485-88
1421型黑白红外航空摄影胶片
包含图表
组件特性
组件外形图
预处理
检查
检查
检验
检验
检验
A组检验
B组检验
C组检验
检测
检测
振动试验条件
随机振动频谱
噪声
光照装置示意图
60℃下制冷特性
室温下制冷特性
标准反馈
     反馈标准:
问题类型:
技术性问题
逻辑性问题
应用性问题
编辑性问题
其它问题
反 馈: